Açıklama

SELPA (Partikül Analizi için Taramalı ELectron Mikroskobu), SEM (Taramalı Elektron Mikroskobu) temel alınarak geliştirilmiş otomatik bir geniş alan partikül analizörüdür.

Endüstriyel uygulamada, parçacıkları çeşitli boyut ve elemanlarına göre analiz etmek ve sınıflandırmak için kullanılabilir, SELPA’nın gücü, geniş alan haritalamasının mümkün olmasıdır. Ayrıca SELPA, 2.5um altındaki parçacıkları analiz edebilir, seçilen alanın eleman dağılımının sonuçlarını alabilen SEM / EDS otomatik

Endüstriyel uygulamada, parçacıkları çeşitli boyut ve elemanlarına göre analiz etmek ve sınıflandırmak için kullanılabilir, SELPA’nın gücü, geniş alan haritalamasının mümkün olmasıdır. Ayrıca SELPA, 2.5um altındaki parçacıkları analiz edebilir, seçilen alanın eleman dağılımının sonuçlarını alabilen SEM / EDS otomatik bir sistemdir.

 Uygulamalar.

– Temizlik Testi

– Çelik İçerme Testi

– GSR (Gun Shot Kalıntısı) Analizi

– Mineral, Asbest Analizi

– Parçacık Analizi